1.預處理:將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下,直至達到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測:將被測樣品與標準要求對照,符合要求后直接放入高低溫沖試驗箱內即可。
3.開始試驗:
A、在樣品斷電的狀態(tài)下,試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,先將試驗箱(室)內溫度下降到-50℃,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試,這一步非常重要,因為通電狀態(tài)下,芯片本身就會產生20℃以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進行測試。
B、低溫階段結束后,在5min內將試驗樣品轉換到已調節(jié)到90℃的高溫試驗箱(室)內,保持4h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個小時后,執(zhí)行A、B測試步驟。
C、進行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
E、高溫和低溫測試分別重復10次。
F、重復上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差。
G、恢復:試驗樣品從試驗箱內取出后,應在正常的試驗大氣條件下進行恢復,直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
H、后檢測:對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。
高低溫測試箱操作不當造成危害,故以下幾點注意事項:
1、為保證設備及試驗的安全,請安裝外部保護接地,并按技術規(guī)格要求供給電源;
2、設備嚴禁用于易燃易爆、有毒、強腐蝕物品的試驗;
3、非專業(yè)人員不得拆卸、維修;
4、設備應有可靠接地;
5、試驗中除非必要請勿打開箱門或進入箱內,否則可能引起人身傷害以及設備誤動作;
6、設備箱門門鎖僅能從外部打開,進入箱內必須有人監(jiān)護;
7、如果箱內放入發(fā)熱試樣,試樣請使用外加電源,不要直接使用設備本身電源;
8、設備設有多種保護措施,請定期檢查;
9、箱體內溫度≥55℃時,請勿打開制冷壓縮機,以保證壓縮機長壽命正常的運行;
10、有制冷功能的產品搬運時傾角不得大于45℃,放置到位后,應靜放1~2天再開機,有利于制冷系統(tǒng)能正常工作并延長壽命;